扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法_doc

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(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号

CN106949966A

(43)申请公布日 2017.07.14(21)申请号CN201710183419.9

(22)申请日2017.03.24

(71)申请人中国科学院上海光学精密机械研究所

地址201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱

(72)发明人王瑄;李中梁;王向朝;曾爱军;南楠;陈艳;潘柳华;卢宇;宋思雨

(74)专利代理机构上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人张宁展

(51)Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法

(57)摘要

一种扫频光学相干层析成像系统的光谱标

定方法,在扫频光学相干层析成像系统的参考臂

中放置一个透明薄片,利用该透明薄片可以获得

光程差为2nd的固定光程差干涉信号。通过密集

采样采集系统的干涉信号,该信号包含薄片的干

涉信号和样品干涉信号,利用薄片的干涉信号进

行光谱标定,获得波数等间隔的样品干涉信号,

再进行逆傅里叶变换的数据处理和图像重建算

法,即可获得样品的层析结构图像。本发明利用